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巴贯仪器科技
vihent Technology专注仪器解决方案
诚信为本顾客至上工业显微镜和图像分析广泛用于材料科学和冶金应用的各个方面 — 从来料检验到质量控制，再到故障分析。作为一家拥有一百多年光学经验的显微镜制造商，我们一直在努力开发出新的方法，以改进冶金检测工作流程。
例如，我们新近推出的PRECiV软件可使您将任何手动工业显微镜升级为一个适用于检测各种材料的综合性成像和测量平台。该软件可以控制一系列进行检测设置所需的设备：显微镜：所有奥林巴斯工业常规显微镜或体视显微镜，包括它们的编码功能
物镜转盘：奥林巴斯电动物镜转盘
相机：奥林巴斯数码相机
这种简单的设置可以通过以下七种方式加快您的冶金图像分析和检测过程：
首先，由于其用户界面简单直观，该软件易于学习，使用方便。导航选项卡使用标记清晰的大按钮分组显示从观察到报告的软件功能。针对简单的工作流程，用户可以访问简化的用户界面，而经验丰富的用户还可以轻松访问高级功能。为了进一步简化工作流程，您甚至可以自行定制主页屏幕，将常用的功能放于其中。
界面编排有序，清晰标记的按钮体现了整个冶金图像分析过程
在金相学中，要获得整个粗糙表面（如断裂样品、多平面材料和不均匀抛光样品）的全聚焦图像颇具挑战性。使用PRECiV软件，借助景深扩展成像（EFI）和全景功能，可以轻松获取超出显微镜单视野的全聚焦图像：
EFI：景深扩展成像，即在不同的焦平面上连续获取多个图像，以创建全聚焦图像
全景：可使您在整个样品上移动载物台，然后再将记录的图像拼接成一张大图像
可以在不中断采集过程的情况下组合使用这两个功能，有助于缩短您的检测时间。
明场是冶金图像分析中常用的方法，但可能无法显示金属或合金的某些特征。其他成像方法可用于突出显示不同的特征：
暗场可以突出显示样品的光散射部分。例如，通过边界蚀刻法制备的样品中的晶界在明场中会显得很暗，而在暗场图像中则会突出显示。与明场一样，暗场也常用于金相学。
微分干涉相差（DIC）突出显示了与表面缺陷（如划痕、条纹、杂质）相关的图像对比的局部变化。
定向暗场特别有利于非金属夹杂物的分析。
偏振光可以显示晶粒表面蚀刻后的单个晶粒取向。这种成像方法与彩色蚀刻相结合，通常用于铝的微观结构分析。
使用PRECiV软件，用户可以从一系列成像方法中进行选择，包括明场、暗场、MIX（明暗场结合）、偏光和DIC（微分干涉）。因此，您可以轻松找到分析材料和金属的理想条件。强劲的色彩渲染和高分辨率能力可提供清晰锐利的图像。
PRECiV软件可在实时或记录的图像上进行准确、重复的二维（2D）测量。强大的测量功能包括：
自动边缘探测*可以可靠地测量两点之间的距离
辅助线*可以轻松测量复杂的几何形状
魔术棒用于自动探测区域
*在PRECiV Pro和PRECiV Desktop中提供。
PRECiV图像分析软件中的各种2D测量工具
粉末冶金和增材制造等金属粉末行业需要一种可以测量颗粒特性（如粒度分布和颗粒粗糙度）和形态参数（如圆度或Feret比）的可靠的解决方案。这种分析有助于确保可靠稳定的质量。
PRECiV软件中的可选计测解决方案可基于阈值进行颗粒分析和相测量。 您可以从各种颗粒参数和用户定义的分类中选择最能代表分析样品行为的参数。
基于阈值的相分析可应用于金属、复合材料和其他可以通过阈值方法分离的材料。
可选的计测解决方案
所有测量都经过校准，因此您可以对检测结果充满信心。该软件连接到显微镜，并使用经过认证的测微计刻度自动校准图像的放大倍率。
该系统还提供符合一系列国际和国家标准的结果。对于诸如晶粒定量或探测钢中的非金属夹杂物等高级应用，您可以使用可选的材料解决方案。这些解决方案指导您完成获取符合国际标准化组织（ISO）、美国材料与试验协会（ASTM）国际组织和日本工业标准（JIS）的测量值所需的步骤。
使用ASTM E 45-18方法A测到的钢中夹杂物含量
这些符合要求的结果可以在Word、Excel或PowerPoint中创建的专业分析报告中公布。您可以根据需要自由修改报告模板，例如您的公司徽标或样品信息。
强大的数据共享和安全功能可使您将正确的信息迅速呈现在正确的人面前。您可以轻松导出图像、数据或专业报告，并在公司网络中共享文件。
成像条件、测量参数、图像处理设置、材料解决方案设置、注释和其他相关信息可以存储在图像中，并在实验室的任何PRECiV工作站中调用。有权访问文件的用户，可以在其工作站上加载信息并开始工作。
使用PRECiV软件在公司网络中安全共享图像的示例
图像可以多种格式保存和加载，增强了灵活性；也可以JPEG格式保存，并附带校准信息以获得追溯性。
要了解有关PRECiV图像分析软件的更多信息，请观看下面的视频或联系我们请求演示。
